Лаборатория электронной просвечивающей микроскопии высокого разрешения

Аналитический высокоразрешающий электронный микроскоп просвечивающего типа фирмы JEOL (JEM-2200FS-CS) предназначен для исследования атомной структуры вещества с одновременным проведением локального химического анализа с возможностью визуализации картин распределения химических элементов по площади исследуемых объектов.

Данный микроскоп позволяет изучение широкого класса материалов, таких как: ультрадисперсные и нанофазные объекты химии и катализа; неорганические материалы, включая высокотемпературные сверхпроводники и различные формы углерода (фуллерены, бакитрубки, алмазы и алмазоподобные вещества); новые материалы полупроводниковой твердотельной электроники, включая системы пониженной размерности; природные материалы различного генезиса; объекты биологии и биомедицины.

Микроскоп обеспечивает работу в режимах высокоразрешающей просвечивающей электронной микроскопии (ВРЭМ), сканирующей просвечивающей микроскопии (СПМ), тёмного и светлого поля, включая HAADF-режим, получение дифракционных картин, включая дифракцию в сходящихся пучках, проведение спектрального анализа и картирования поверхностей при помощи модулей EDS и EELS.

Разрешающая способность:

- по точкам – 0.19 нм;

- по решётке – 0.1 нм;

- в режиме картирования – 0.2 нм;

- в режиме HAADF – 0.14 нм.

 

Отделение: 
Диагностическое
Контакты: 

Кривякин Григорий Константинович
e-mail: grigory.krivyakin@gmail.com
тел. +79538849823