Лаборатория дифрактометрии

Для реализации дифракционного метода – малоуглового рентгеновского рассеяния подразделение АТИЦ располагает прибором S3-MICRO фирмы Hecus (Австрия), позволяющим измерять интенсивность рентгеновского рассеяния от исследуемых твердых и жидких образцов в виде пленок, пластин, покрытий, порошков, растворов, золей и гелей в области от самых малых углов до 8°. Для измерения дифрактограмм предусмотрено использование координатных (1D и 2D) детекторов. В качестве источника излучения используется рентгеновская трубка с медным анодом (λCuKα = 0.154 нм). Имеется возможность термостабилизации образцов в диапазоне от -30 до 300 оС.


Вид камеры Кратки

 

Решаемые задачи, получаемая информация:

• Исследование внутренней структуры веществ и материалов с получением прямой информации о формах и взаимном распределении рассеивающих наночастиц (неоднородностей электронной плотности) размером от 1 до 200 нм в слое образца.

• Определение значений структурных инвариантов наночастиц в монодисперсных системах: радиусов инерции (объёмного, поперечного сечения и толщины); объёма и площади поверхности; максимального размера и корреляционной длины.

• Определение дисперсного (в некоторых случаях и компонентного) состава (распределений) наночастиц по размерам в полидисперсных системах.

• Определение удельной поверхности и фрактальности внутренней структуры образцов.

• Исследование молекулярных механизмов равновесных взаимодействий наночастиц в жидких и твёрдых смесях в физических, химических и биологических процессах с определением термодинамических характеристик, в том числе, в условиях in situ.

Требования к образцам: 

Тонкие слои размером 1 х 1 мм2; порошки, растворы, гели и золи с объёмом дисперсной фазы 0.05 см3

 

Отделение: 
Диагностическое
Контакты: 

Ларичев Юрий Васильевич
e-mail: i.larichev@nsu.ru